Built-In Self-Test (BIST) ist ein Mechanismus oder System, das es elektronischen Ger\u00e4ten und Systemen erm\u00f6glicht, Selbsttests durchzuf\u00fchren und ihre interne Funktionalit\u00e4t zu \u00fcberpr\u00fcfen. Es wurde speziell entwickelt, um die effiziente und kosteng\u00fcnstige Pr\u00fcfung von ICs w\u00e4hrend der Herstellung zu erleichtern.<\/p>\n\n\n\n
BIST verringert die Abh\u00e4ngigkeit von externen automatisierten Testger\u00e4ten (ATE), indem zus\u00e4tzliche Hardware- und Softwarefunktionen direkt in die ICs integriert werden. Dadurch k\u00f6nnen die ICs ihren eigenen Betrieb sowohl funktional als auch parametrisch unter Verwendung ihrer internen Schaltungen testen. Durch die Durchf\u00fchrung von Selbsttests k\u00f6nnen die ICs ihre Funktionalit\u00e4t \u00fcberpr\u00fcfen, potenzielle Fehler oder Defekte erkennen und eine zuverl\u00e4ssige Leistung gew\u00e4hrleisten.<\/p>\n\n\n\n
BIST wird als Design-for-Testability (DFT)-Technik betrachtet, da sie die Einfachheit, Geschwindigkeit, Effizienz und Kosteneffizienz der elektrischen Pr\u00fcfung von Chips verbessert. Sie kann auf verschiedene Weise implementiert werden, je nach den spezifischen Schaltkreis- und Produktanforderungen. Bei DRAMs beispielsweise beinhaltet ein g\u00e4ngiger BIST-Ansatz die Integration zus\u00e4tzlicher Schaltungen auf dem Chip f\u00fcr die Mustergenerierung, das Timing, die Modusauswahl und die Diagnosetests.<\/p>\n\n\n\n
Die Entwicklung von BIST-Techniken wurde durch die steigenden Kosten f\u00fcr ATE-Tests und die zunehmende Komplexit\u00e4t integrierter Schaltungen vorangetrieben. Da die Ger\u00e4te immer komplizierter werden und verschiedene Funktionsbl\u00f6cke auf unterschiedlichen Technologien aufbauen, bietet BIST eine L\u00f6sung f\u00fcr die Pr\u00fcfung kritischer Schaltungen, die keine direkten Verbindungen zu externen Pins haben, wie z. B. eingebettete Speicher, die intern in den Ger\u00e4ten verwendet werden.<\/p>\n\n\n\n
Die Implementierung von BIST bietet mehrere Vorteile, darunter niedrigere Testkosten durch die Reduzierung oder den Wegfall externer elektrischer Tests mit ATE, eine verbesserte Fehlerabdeckung durch die Integration spezieller Teststrukturen auf den Chips, k\u00fcrzere Testzeiten, wenn BIST mehr Strukturen parallel testen kann, einfachere Kundenunterst\u00fctzung und die M\u00f6glichkeit, Tests au\u00dferhalb der elektrischen Testumgebung der Produktion durchzuf\u00fchren.<\/p>\n\n\n\n
Zu den potenziellen Nachteilen geh\u00f6ren zus\u00e4tzliche Siliziumfl\u00e4che und Fertigungsanforderungen f\u00fcr die BIST-Schaltungen, potenzielle Auswirkungen auf die Zugriffszeiten, zus\u00e4tzliche Anforderungen an die Pin- und Geh\u00e4usegr\u00f6\u00dfe f\u00fcr die Schnittstellen zur Au\u00dfenwelt und die M\u00f6glichkeit falscher BIST-Ergebnisse, wenn die On-Chip-Testhardware selbst ausf\u00e4llt.<\/p>\n\n\n\n
Die Vorteile eines integrierten Selbsttests (BIST) in einem System sind zahlreich. Erstens werden dadurch die Testkosten erheblich gesenkt, da keine externen elektrischen Tests mit einem ATE mehr erforderlich sind. Zweitens erm\u00f6glicht BIST eine bessere Fehlerabdeckung, da spezielle Teststrukturen in die Chips integriert werden k\u00f6nnen. Und wenn das BIST so konzipiert ist, dass es effizienter testet, kann es zu k\u00fcrzeren Testzeiten f\u00fchren.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Eingebaute Pr\u00fcfger\u00e4te wie Multimeter, Oszilloskope, Entladungssonden und Frequenzgeneratoren sind in das System integriert, um die Pr\u00fcfung und Diagnose zu erleichtern. Der Begriff BIT wird \u00fcblicherweise verwendet, um auf diese Funktion oder auf die spezifischen Tests zu verweisen.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Erl\u00e4uterung: Der Hauptzweck des integrierten Selbsttests besteht darin, die Kosten f\u00fcr die Erstellung von Testmustern zu minimieren, die Menge der Testdaten zu verringern und die Gesamttestzeit zu verk\u00fcrzen. Au\u00dferdem wird bei der Datenkomprimierungstechnik der Vergleich mit der komprimierten Testantwort und nicht mit den gesamten Testdaten durchgef\u00fchrt.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Was ist ein integrierter Selbsttest (BIST)?<\/p>\n
Eingebauter Selbsttest (BIST) ist ein Mechanismus oder System, das es elektronischen Ger\u00e4ten und Systemen erm\u00f6glicht, Selbsttests durchzuf\u00fchren und ihre interne Funktionalit\u00e4t zu \u00fcberpr\u00fcfen.<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":4750,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"article_term":"","article_term_alternate":"","article_term_def":"","article_hook":"","auto_links":"","article_topic":"","article_fact_check":"","mt_social_share":"","mt_content_meta":"","mt_glossary_display":"","glossary_heading":"","glossary":"Built-In Self-Test (BIST)","glossary_alter":"","glossary_def":"","article_task":"","footnotes":""},"categories":[15],"tags":[13,14],"class_list":["post-7474","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-glossary","tag-glossary","tag-ng"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7474"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":8770,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions\/8770"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/4750"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7474"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=7474"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=7474"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}