{"id":7273,"date":"2023-08-07T01:55:31","date_gmt":"2023-08-07T01:55:31","guid":{"rendered":"https:\/\/www.besterpcba.com\/?p=7273"},"modified":"2023-08-07T01:55:31","modified_gmt":"2023-08-07T01:55:31","slug":"what-is-analog-functional-test","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/que-es-una-prueba-funcional-analogica\/","title":{"rendered":"Qu\u00e9 es la prueba funcional anal\u00f3gica"},"content":{"rendered":"<h2 class=\"wp-block-heading\" id=\"what-is-analog-functional-test\">Qu\u00e9 es la prueba funcional anal\u00f3gica<\/h2>\n\n\n<p>La prueba funcional anal\u00f3gica es un tipo espec\u00edfico de proceso de prueba que se realiza en una placa de circuito impreso (PCB) para evaluar su funcionalidad y garantizar que funciona de acuerdo con las especificaciones previstas. Este tipo de prueba se centra en simular el comportamiento operativo de la placa y evaluar el rendimiento de sus circuitos anal\u00f3gicos.<\/p>\n\n\n\n<p>Durante la prueba funcional anal\u00f3gica, se env\u00edan varias se\u00f1ales y corrientes a trav\u00e9s de la placa de circuito impreso utilizando diferentes m\u00e9todos de conexi\u00f3n. El objetivo es detectar los problemas digitales y anal\u00f3gicos que puedan surgir, como distorsiones de la se\u00f1al, problemas de sincronizaci\u00f3n y niveles de corriente incorrectos. Al realizar esta prueba, los t\u00e9cnicos pueden identificar cualquier fallo o discrepancia en la funcionalidad de la placa y rastrearlos hasta el nivel de los componentes para su correcci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<p>Para realizar la prueba funcional anal\u00f3gica, se utiliza un software espec\u00edfico dise\u00f1ado para los circuitos de la placa de circuito impreso. Este software genera las se\u00f1ales y corrientes necesarias y ayuda a detectar e informar de cualquier problema que pueda producirse durante la prueba. Adem\u00e1s, se utilizan conexiones de cables y puntos de prueba integrados en la placa para facilitar el proceso de prueba.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faqs\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\"><h2 class=\"wp-block-heading\" id=\"frequently-asked-questions\">Preguntas frecuentes<\/h2>\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq_q\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\"><h3 class=\"wp-block-heading\" id=\"what-is-the-difference-between-ict-and-functional-test\">\u00bfCu\u00e1l es la diferencia entre TIC y prueba funcional?<\/h3><\/div><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq_a\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<p>La prueba en circuito (ICT) es un proceso que consiste en medir todos los componentes individuales de un conjunto. Se utiliza para detectar cualquier componente defectuoso y sustituirlo si es necesario. Por otro lado, la prueba funcional (FCT) se realiza para garantizar que el conjunto funciona exactamente como estaba previsto, con un \u00edndice de precisi\u00f3n del 100 por cien.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq_q\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\"><h3 class=\"wp-block-heading\" id=\"what-is-functional-and-nonfunctional-testing\">Qu\u00e9 son las pruebas funcionales y no funcionales<\/h3><\/div><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq_a\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<p>Las pruebas funcionales consisten en evaluar los procesos de la aplicaci\u00f3n bas\u00e1ndose en un conjunto espec\u00edfico de requisitos o especificaciones. Por otro lado, las pruebas no funcionales se centran en evaluar aspectos de la aplicaci\u00f3n que no est\u00e1n directamente relacionados con su funcionalidad pero que, aun as\u00ed, repercuten en la experiencia general del usuario, como el rendimiento y la fiabilidad cuando se somete a cargas pesadas.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq_q\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\"><h3 class=\"wp-block-heading\" id=\"which-is-better-functional-or-nonfunctional-testing\">\u00bfQu\u00e9 es mejor: pruebas funcionales o no funcionales?<\/h3><\/div><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group glossary_faq_a\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<p>La distinci\u00f3n entre pruebas funcionales y pruebas no funcionales radica en las \u00e1reas que eval\u00faan. Las pruebas funcionales se centran en verificar el correcto funcionamiento de las funciones y caracter\u00edsticas de la aplicaci\u00f3n. En cambio, las pruebas no funcionales eval\u00faan otros aspectos del rendimiento de la aplicaci\u00f3n. En esencia, las pruebas funcionales comprueban espec\u00edficamente la funcionalidad de una aplicaci\u00f3n.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Qu\u00e9 es la prueba funcional anal\u00f3gica<\/p>\n<p>La prueba funcional anal\u00f3gica es un tipo espec\u00edfico de proceso de prueba que se realiza en una placa de circuito impreso (PCB) para evaluar su funcionalidad y garantizar que funciona de acuerdo con las especificaciones previstas.<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":4750,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"article_term":"","article_term_alternate":"","article_term_def":"","article_hook":"","auto_links":"","article_topic":"","article_fact_check":"","mt_social_share":"","mt_content_meta":"","mt_glossary_display":"","glossary_heading":"","glossary":"Analog Functional Test","glossary_alter":"","glossary_def":"","article_task":"","footnotes":""},"categories":[15],"tags":[13,14],"class_list":["post-7273","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-glossary","tag-glossary","tag-ng"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7273","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7273"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7273\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":7304,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7273\/revisions\/7304"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/4750"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7273"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=7273"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=7273"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}