El autodiagn\u00f3stico integrado (BIST) es un mecanismo o sistema que permite a los dispositivos y sistemas electr\u00f3nicos realizar autodiagn\u00f3sticos y verificar su funcionalidad interna. Est\u00e1 dise\u00f1ado espec\u00edficamente para facilitar la comprobaci\u00f3n eficaz y rentable de los circuitos integrados durante su fabricaci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n
El BIST reduce la dependencia de los equipos externos de pruebas automatizadas (ATE) al incorporar funciones adicionales de hardware y software directamente en los circuitos integrados. Esto permite a los circuitos integrados probar su propio funcionamiento, tanto funcional como param\u00e9tricamente, utilizando sus circuitos internos. Al realizar autocomprobaciones, los CI pueden verificar su funcionalidad, identificar posibles fallos o defectos y garantizar un rendimiento fiable.<\/p>\n\n\n\n
El BIST se considera una t\u00e9cnica de dise\u00f1o para la comprobabilidad (DFT), ya que mejora la facilidad, rapidez, eficacia y rentabilidad de las pruebas el\u00e9ctricas de los chips. Puede aplicarse de varias formas, en funci\u00f3n de los requisitos espec\u00edficos del circuito y del producto. Por ejemplo, en el caso de las memorias DRAM, un enfoque BIST com\u00fan implica la incorporaci\u00f3n de circuitos adicionales en el chip para la generaci\u00f3n de patrones, temporizaci\u00f3n, selecci\u00f3n de modo y pruebas de diagn\u00f3stico.<\/p>\n\n\n\n
El desarrollo de las t\u00e9cnicas BIST se ha visto impulsado por el aumento de los costes de las pruebas ATE y la creciente complejidad de los circuitos integrados. A medida que los dispositivos se vuelven m\u00e1s intrincados, con diversos bloques funcionales construidos sobre diferentes tecnolog\u00edas, el BIST ofrece una soluci\u00f3n para probar circuitos cr\u00edticos que no tienen conexiones directas con pines externos, como las memorias integradas utilizadas internamente por los dispositivos.<\/p>\n\n\n\n
La implantaci\u00f3n de BIST ofrece varias ventajas, como la reducci\u00f3n de los costes de las pruebas al disminuir o eliminar la necesidad de pruebas el\u00e9ctricas externas mediante ATE, la mejora de la cobertura de fallos al incorporar estructuras de prueba especiales en los chips, la reducci\u00f3n de los tiempos de prueba si BIST puede probar m\u00e1s estructuras en paralelo, una asistencia al cliente m\u00e1s sencilla y la posibilidad de realizar pruebas fuera del entorno de pruebas el\u00e9ctricas de producci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n
Entre los posibles inconvenientes cabe citar el aumento de la superficie de silicio y de los requisitos de procesamiento de los circuitos BIST, el posible impacto en los tiempos de acceso, los requisitos adicionales de tama\u00f1o de patillas y encapsulado para la interconexi\u00f3n con el mundo exterior y la posibilidad de obtener resultados BIST incorrectos si falla el propio hardware de pruebas en chip.<\/p>\n\n\n\n
Las ventajas de incorporar el autodiagn\u00f3stico integrado (BIST) a un sistema son numerosas. En primer lugar, reduce considerablemente el coste de las pruebas, ya que no es necesario realizar pruebas el\u00e9ctricas externas con un ATE. En segundo lugar, el BIST permite cubrir mejor los fallos, ya que se pueden integrar estructuras de prueba especiales en los chips. Por \u00faltimo, si el BIST se dise\u00f1a para realizar las pruebas con mayor eficacia, puede reducir el tiempo de las mismas.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Los equipos de prueba integrados, como mult\u00edmetros, osciloscopios, sondas de descarga y generadores de frecuencia, se incorporan al sistema con el fin de facilitar las pruebas y el diagn\u00f3stico. El t\u00e9rmino BIT se utiliza habitualmente para referirse a esta funci\u00f3n o a las pruebas espec\u00edficas realizadas.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Explicaci\u00f3n: El objetivo principal de la autocomprobaci\u00f3n integrada es minimizar el coste de la generaci\u00f3n de patrones de prueba, disminuir la cantidad de datos de prueba y reducir el tiempo total de la prueba. Adem\u00e1s, en la t\u00e9cnica de compresi\u00f3n de datos, la comparaci\u00f3n se realiza en la respuesta de prueba condensada en lugar de en los datos de prueba completos.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Qu\u00e9 es el autodiagn\u00f3stico integrado (BIST)<\/p>\n
El autodiagn\u00f3stico integrado (BIST) es un mecanismo o sistema que permite a los dispositivos y sistemas electr\u00f3nicos realizar autodiagn\u00f3sticos y verificar su funcionalidad interna.<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":4750,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"article_term":"","article_term_alternate":"","article_term_def":"","article_hook":"","auto_links":"","article_topic":"","article_fact_check":"","mt_social_share":"","mt_content_meta":"","mt_glossary_display":"","glossary_heading":"","glossary":"Built-In Self-Test (BIST)","glossary_alter":"","glossary_def":"","article_task":"","footnotes":""},"categories":[15],"tags":[13,14],"class_list":["post-7474","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-glossary","tag-glossary","tag-ng"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7474"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":8770,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions\/8770"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/4750"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7474"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=7474"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=7474"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}