L'autotest int\u00e9gr\u00e9 (BIST) est un m\u00e9canisme ou un syst\u00e8me qui permet aux appareils et syst\u00e8mes \u00e9lectroniques d'effectuer un autotest et une v\u00e9rification de leur fonctionnalit\u00e9 interne. Il est sp\u00e9cifiquement con\u00e7u pour faciliter le test efficace et rentable des circuits int\u00e9gr\u00e9s pendant la fabrication.<\/p>\n\n\n\n
Le BIST r\u00e9duit la d\u00e9pendance \u00e0 l'\u00e9gard des \u00e9quipements de test automatis\u00e9s externes (ATE) en incorporant des fonctions mat\u00e9rielles et logicielles suppl\u00e9mentaires directement dans les circuits int\u00e9gr\u00e9s. Cela permet aux circuits int\u00e9gr\u00e9s de tester leur propre fonctionnement, tant sur le plan fonctionnel que param\u00e9trique, en utilisant leurs circuits internes. En effectuant des autotests, les circuits int\u00e9gr\u00e9s peuvent v\u00e9rifier leur fonctionnalit\u00e9, identifier tout d\u00e9faut potentiel et garantir des performances fiables.<\/p>\n\n\n\n
Le BIST est consid\u00e9r\u00e9 comme une technique de conception pour la testabilit\u00e9 (DFT), car il am\u00e9liore la facilit\u00e9, la rapidit\u00e9, l'efficacit\u00e9 et la rentabilit\u00e9 des tests \u00e9lectriques pour les puces. Elle peut \u00eatre mise en \u0153uvre de diff\u00e9rentes mani\u00e8res, en fonction des exigences sp\u00e9cifiques du circuit et du produit. Par exemple, dans le cas des DRAM, une approche BIST courante consiste \u00e0 incorporer des circuits suppl\u00e9mentaires sur la puce pour la g\u00e9n\u00e9ration de motifs, la synchronisation, la s\u00e9lection de mode et les tests de diagnostic.<\/p>\n\n\n\n
Le d\u00e9veloppement des techniques BIST a \u00e9t\u00e9 motiv\u00e9 par l'augmentation des co\u00fbts des tests ATE et la complexit\u00e9 croissante des circuits int\u00e9gr\u00e9s. \u00c0 mesure que les dispositifs deviennent plus complexes, avec divers blocs fonctionnels construits sur diff\u00e9rentes technologies, le BIST offre une solution pour tester les circuits critiques qui n'ont pas de connexions directes avec des broches externes, comme les m\u00e9moires int\u00e9gr\u00e9es utilis\u00e9es en interne par les dispositifs.<\/p>\n\n\n\n
La mise en \u0153uvre du BIST offre plusieurs avantages, notamment la r\u00e9duction des co\u00fbts de test en r\u00e9duisant ou en \u00e9liminant le besoin de tests \u00e9lectriques externes \u00e0 l'aide de l'ATE, une meilleure couverture des d\u00e9fauts en incorporant des structures de test sp\u00e9ciales sur les puces, des temps de test plus courts si le BIST peut tester plus de structures en parall\u00e8le, un support client plus facile et la possibilit\u00e9 d'effectuer des tests en dehors de l'environnement de test \u00e9lectrique de la production.<\/p>\n\n\n\n
Parmi les inconv\u00e9nients potentiels, citons la surface de silicium suppl\u00e9mentaire et les exigences de traitement en usine pour les circuits BIST, l'impact potentiel sur les temps d'acc\u00e8s, les exigences suppl\u00e9mentaires en mati\u00e8re de taille des broches et des bo\u00eetiers pour l'interface avec le monde ext\u00e9rieur, et la possibilit\u00e9 de r\u00e9sultats BIST incorrects en cas de d\u00e9faillance du mat\u00e9riel de test sur la puce elle-m\u00eame.<\/p>\n\n\n\n
L'int\u00e9gration de l'autotest int\u00e9gr\u00e9 (BIST) dans un syst\u00e8me pr\u00e9sente de nombreux avantages. Tout d'abord, il r\u00e9duit consid\u00e9rablement le co\u00fbt des tests car il n'est plus n\u00e9cessaire d'effectuer des tests \u00e9lectriques externes \u00e0 l'aide d'un ATE. Deuxi\u00e8mement, le BIST permet une meilleure couverture des d\u00e9fauts car des structures de test sp\u00e9ciales peuvent \u00eatre int\u00e9gr\u00e9es aux puces. Enfin, si le BIST est con\u00e7u pour tester plus efficacement, il peut conduire \u00e0 des temps de test plus courts.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Des \u00e9quipements de test int\u00e9gr\u00e9s, tels que des multim\u00e8tres, des oscilloscopes, des sondes de d\u00e9charge et des g\u00e9n\u00e9rateurs de fr\u00e9quence, sont incorpor\u00e9s dans le syst\u00e8me afin de faciliter les tests et les diagnostics. Le terme TBI est couramment utilis\u00e9 pour d\u00e9signer cette fonction ou les tests sp\u00e9cifiques effectu\u00e9s.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Explication : L'objectif principal de l'autotest int\u00e9gr\u00e9 est de minimiser le co\u00fbt de la g\u00e9n\u00e9ration du mod\u00e8le de test, de diminuer la quantit\u00e9 de donn\u00e9es de test et de r\u00e9duire la dur\u00e9e totale du test. En outre, dans la technique de compression des donn\u00e9es, la comparaison est effectu\u00e9e sur la r\u00e9ponse condens\u00e9e du test plut\u00f4t que sur l'ensemble des donn\u00e9es du test.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Qu'est-ce que l'autotest int\u00e9gr\u00e9 (BIST) ?<\/p>\n
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