La scansione dei limiti, nota anche come JTAG (Joint Test Action Group), \u00e8 una tecnica di test che prevede l'integrazione di celle di latch del registro a scorrimento, note come celle di scansione dei limiti, in ogni connessione esterna dei dispositivi compatibili con la scansione dei limiti. Queste celle consentono di testare e debuggare i circuiti integrati (IC) e le interconnessioni su un PCB.<\/p>\n\n\n\n
Le celle di boundary scan sono posizionate strategicamente adiacenti a ciascun pin I\/O (Input\/Output) di un IC, formando una catena di shift register che consente il trasferimento di dati tra i dispositivi. Durante il normale funzionamento, le celle di boundary scan rimangono invisibili e non hanno alcun effetto sul circuito. Tuttavia, quando il dispositivo \u00e8 impostato in modalit\u00e0 test, un flusso di dati seriale, chiamato vettore di test, pu\u00f2 essere fatto passare attraverso la catena di shift register. Ci\u00f2 consente l'acquisizione di dati dalle linee del circuito integrato o l'imposizione di dati su di esse, facilitando test e analisi completi.<\/p>\n\n\n\n
Per controllare il dispositivo di boundary scan, vengono utilizzati un Test Access Port (TAP) dedicato e un TAP Controller. Il TAP Controller, una macchina a 16 stati, gestisce il Boundary Register, che \u00e8 costituito dalle celle di boundary scan. I segnali TAP, inclusi Test Data In (TDI), Test Data Out (TDO), Test Clock (TCK), Test Mode Select (TMS) e Test Reset (TRST) opzionale, vengono utilizzati per controllare il dispositivo di boundary scan ed eseguire varie funzioni di test.<\/p>\n\n\n\n
Lo standard IEEE 1149.1 definisce l'architettura e le procedure per il test di boundary scan. Specifica tre funzioni di test obbligatorie: EXTEST, SAMPLE\/PRELOAD e BYPASS. Inoltre, lo standard descrive funzioni di test opzionali come INTEST, RUNBIST, IDCODE, CLAMP, HIGHZ e USERCODE. I produttori hanno anche la flessibilit\u00e0 di aggiungere le proprie funzioni di test all'interno delle linee guida dello standard IEEE.<\/p>\n\n\n\n
Il Boundary Scan, con la sua capacit\u00e0 di testare e debuggare IC complessi e interconnessioni senza la necessit\u00e0 di sonde di test fisiche, \u00e8 una tecnica preziosa nel settore dei PCB. Fornisce una soluzione di test completa, in particolare nei casi in cui l'accesso fisico ai pin \u00e8 difficile a causa di fattori come l'elevata densit\u00e0 dei componenti, le impronte pi\u00f9 piccole e le tecnologie avanzate come BGA e SMT.<\/p>\n\n\n\n
Il boundary scan \u00e8 una tecnologia di test che prevede l'aggiunta di celle extra nei conduttori dal silicio ai pin esterni. Ci\u00f2 consente di verificare sia il chip che la funzionalit\u00e0 della scheda. D'altra parte, JTAG \u00e8 un acronimo di Joint Test Action Group, che si riferisce all'interfaccia o alla porta di accesso al test utilizzata per scopi di comunicazione.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Il registro di boundary scan ha lo scopo di acquisire i dati nelle celle di boundary scan, il che implica il monitoraggio dei pin di ingresso. Questi dati possono essere scansionati fuori dal dispositivo attraverso il pin TDO per la verifica e possono anche essere scansionati nel dispositivo attraverso il pin TDI. In questo modo, il tester \u00e8 in grado di verificare i dati sui pin di uscita del dispositivo.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
JTAG, che sta per Joint Test Action Group, \u00e8 uno standard industriale utilizzato per verificare i progetti e testare i circuiti stampati dopo la loro fabbricazione. \u00c8 uno strumento che integra la simulazione digitale e implementa standard per la strumentazione on-chip nell'automazione della progettazione elettronica (EDA).<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
I dati limite si riferiscono a un insieme di valori di dati di test situati agli estremi di un determinato intervallo. Questi valori rappresentano i limiti superiore e inferiore di ci\u00f2 che \u00e8 previsto e dovrebbe essere accettato. Viceversa, qualsiasi valore che rientri al di fuori di questi limiti, prima o dopo di essi, dovrebbe essere rifiutato.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
L'architettura di test JTAG\/boundary-scan \u00e8 stata inizialmente progettata per testare le connessioni tra circuiti integrati (IC) su un circuito stampato (PCB) senza la necessit\u00e0 di sonde di test fisiche. Ci\u00f2 si ottiene collegando celle boundary-scan, create utilizzando circuiti multiplexer e latch, a ciascun pin del dispositivo.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
L'utilizzo di JTAG per l'estrazione del firmware offre numerosi vantaggi. In primo luogo, JTAG \u00e8 un protocollo universalmente riconosciuto e ampiamente utilizzato, il che significa che esiste una vasta gamma di strumenti e risorse accessibili per il suo utilizzo. In secondo luogo, JTAG consente l'accesso diretto alla memoria del dispositivo, bypassando la necessit\u00e0 di qualsiasi funzionalit\u00e0 software o firmware.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Le versioni ISO sono essenzialmente le stesse delle versioni RGH\/JTAG, ma sono in un formato diverso. I file ISO contengono i file di gioco, mentre le versioni RGH\/JTAG sono in un formato diverso. Ieri, Noobert stava sperimentando la compressione dei file in un formato pi\u00f9 piccolo.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Un'architettura di boundary scan \u00e8 un metodo di test standardizzato che definisce le tecniche e la struttura per affrontare i problemi hardware in componenti come circuiti stampati (PCB) e circuiti integrati. Questo approccio \u00e8 particolarmente utile per testare PCB complessi e densamente popolati, poich\u00e9 i tradizionali tester in-circuit potrebbero non essere altrettanto efficaci in questi casi.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Il controller JTAG TAP, secondo lo standard IEEE-1149.1, \u00e8 una macchina a stati finiti a 16 stati controllata dai segnali di clock di test (TCK) e di selezione della modalit\u00e0 di test (TMS). Le transizioni del controller TAP sono determinate dallo stato di TMS sul fronte di salita di TCK.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Il protocollo JTAG, noto anche come IEEE 1149.1, \u00e8 stato inizialmente sviluppato per semplificare il test dell'interconnettivit\u00e0 dei PCB durante il processo di produzione.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
JTAG \u00e8 un'interfaccia hardware creata dal Joint Test Access Group negli anni '80 per superare le difficolt\u00e0 tecniche e le restrizioni dei test di interconnessione su circuiti stampati (PCB) pi\u00f9 intricati e compatti.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Cos'\u00e8 la scansione dei limiti?<\/p>\n
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