Il Built-In Self-Test (BIST) \u00e8 un meccanismo o sistema che consente a dispositivi e sistemi elettronici di eseguire autotest e verifica della propria funzionalit\u00e0 interna. \u00c8 specificamente progettato per facilitare test efficienti ed economici dei circuiti integrati durante la produzione.<\/p>\n\n\n\n
Il BIST riduce la dipendenza dalle apparecchiature di collaudo automatizzate (ATE) esterne incorporando ulteriori funzionalit\u00e0 hardware e software direttamente nei circuiti integrati. Ci\u00f2 consente ai circuiti integrati di testare il proprio funzionamento, sia funzionalmente che parametricamente, utilizzando i propri circuiti interni. Eseguendo autotest, i circuiti integrati possono verificare la propria funzionalit\u00e0, identificare potenziali guasti o difetti e garantire prestazioni affidabili.<\/p>\n\n\n\n
Il BIST \u00e8 considerato una tecnica Design-for-Testability (DFT), in quanto migliora la facilit\u00e0, la velocit\u00e0, l'efficienza e la redditivit\u00e0 dei test elettrici per i chip. Pu\u00f2 essere implementato in vari modi, a seconda del circuito specifico e dei requisiti del prodotto. Ad esempio, nel caso delle DRAM, un approccio BIST comune prevede l'incorporazione di circuiti aggiuntivi sul chip per la generazione di pattern, la temporizzazione, la selezione della modalit\u00e0 e i test diagnostici.<\/p>\n\n\n\n
Lo sviluppo delle tecniche BIST \u00e8 stato guidato dai crescenti costi dei test ATE e dalla crescente complessit\u00e0 dei circuiti integrati. Man mano che i dispositivi diventano pi\u00f9 complessi, con diversi blocchi funzionali costruiti su diverse tecnologie, il BIST fornisce una soluzione per testare i circuiti critici che non hanno collegamenti diretti ai pin esterni, come le memorie embedded utilizzate internamente dai dispositivi.<\/p>\n\n\n\n
L'implementazione del BIST offre diversi vantaggi, tra cui costi di test inferiori riducendo o eliminando la necessit\u00e0 di test elettrici esterni utilizzando ATE, una migliore copertura dei guasti incorporando speciali strutture di test sui chip, tempi di test pi\u00f9 brevi se il BIST pu\u00f2 testare pi\u00f9 strutture in parallelo, un supporto clienti pi\u00f9 semplice e la possibilit\u00e0 di eseguire test al di fuori dell'ambiente di test elettrico di produzione.<\/p>\n\n\n\n
I potenziali svantaggi includono l'area aggiuntiva del silicio e i requisiti di elaborazione fab per i circuiti BIST, il potenziale impatto sui tempi di accesso, i requisiti aggiuntivi per le dimensioni dei pin e del package per l'interfacciamento con il mondo esterno e la possibilit\u00e0 di risultati BIST errati se l'hardware di test on-chip stesso si guasta.<\/p>\n\n\n\n
I vantaggi dell'incorporazione dell'autotest integrato (BIST) in un sistema sono numerosi. In primo luogo, riduce significativamente il costo dei test poich\u00e9 non \u00e8 pi\u00f9 necessario eseguire test elettrici esterni utilizzando un ATE. In secondo luogo, il BIST consente una migliore copertura dei guasti poich\u00e9 \u00e8 possibile integrare speciali strutture di test sui chip. Infine, se il BIST \u00e8 progettato per testare in modo pi\u00f9 efficiente, pu\u00f2 portare a tempi di test pi\u00f9 brevi.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Le apparecchiature di collaudo integrate, come multimetri, oscilloscopi, sonde di scarica e generatori di frequenza, sono incorporate nel sistema allo scopo di facilitare i test e la diagnostica. Il termine BIT \u00e8 comunemente usato per riferirsi a questa funzione o ai test specifici eseguiti.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Spiegazione: Lo scopo principale dell'autotest integrato \u00e8 ridurre al minimo il costo della generazione di pattern di test, diminuire la quantit\u00e0 di dati di test e ridurre il tempo di test complessivo. Inoltre, nella tecnica di compressione dei dati, il confronto viene eseguito sulla risposta di test condensata anzich\u00e9 sull'intera quantit\u00e0 di dati di test.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Cos'\u00e8 il Built-In Self-Test (BIST)<\/p>\n
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