Wbudowany autotest (BIST) to mechanizm lub system, kt\u00f3ry umo\u017cliwia urz\u0105dzeniom i systemom elektronicznym przeprowadzanie autotestowania i weryfikacji ich wewn\u0119trznej funkcjonalno\u015bci. Zosta\u0142 on specjalnie zaprojektowany w celu u\u0142atwienia wydajnego i op\u0142acalnego testowania uk\u0142ad\u00f3w scalonych podczas produkcji.<\/p>\n\n\n\n
BIST zmniejsza zale\u017cno\u015b\u0107 od zewn\u0119trznych automatycznych urz\u0105dze\u0144 testuj\u0105cych (ATE) poprzez w\u0142\u0105czenie dodatkowych funkcji sprz\u0119towych i programowych bezpo\u015brednio do uk\u0142ad\u00f3w scalonych. Umo\u017cliwia to uk\u0142adom scalonym testowanie w\u0142asnego dzia\u0142ania, zar\u00f3wno funkcjonalnie, jak i parametrycznie, przy u\u017cyciu ich wewn\u0119trznych obwod\u00f3w. Wykonuj\u0105c autotesty, uk\u0142ady scalone mog\u0105 weryfikowa\u0107 swoj\u0105 funkcjonalno\u015b\u0107, identyfikowa\u0107 potencjalne usterki lub wady oraz zapewnia\u0107 niezawodne dzia\u0142anie.<\/p>\n\n\n\n
BIST jest uwa\u017cany za technik\u0119 Design-for-Testability (DFT), poniewa\u017c zwi\u0119ksza \u0142atwo\u015b\u0107, szybko\u015b\u0107, wydajno\u015b\u0107 i op\u0142acalno\u015b\u0107 testowania elektrycznego chip\u00f3w. Mo\u017ce by\u0107 wdra\u017cany na r\u00f3\u017cne sposoby, w zale\u017cno\u015bci od konkretnego obwodu i wymaga\u0144 produktu. Na przyk\u0142ad, w przypadku pami\u0119ci DRAM, typowe podej\u015bcie BIST obejmuje w\u0142\u0105czenie dodatkowych obwod\u00f3w na chipie do generowania wzorc\u00f3w, taktowania, wyboru trybu i test\u00f3w diagnostycznych.<\/p>\n\n\n\n
Rozw\u00f3j technik BIST by\u0142 nap\u0119dzany rosn\u0105cymi kosztami testowania ATE i rosn\u0105c\u0105 z\u0142o\u017cono\u015bci\u0105 uk\u0142ad\u00f3w scalonych. Wraz ze wzrostem z\u0142o\u017cono\u015bci urz\u0105dze\u0144, z r\u00f3\u017cnymi blokami funkcjonalnymi zbudowanymi w oparciu o r\u00f3\u017cne technologie, BIST zapewnia rozwi\u0105zanie do testowania krytycznych obwod\u00f3w, kt\u00f3re nie maj\u0105 bezpo\u015brednich po\u0142\u0105cze\u0144 z zewn\u0119trznymi pinami, takich jak wbudowane pami\u0119ci u\u017cywane wewn\u0119trznie przez urz\u0105dzenia.<\/p>\n\n\n\n
Wdro\u017cenie BIST oferuje kilka zalet, w tym ni\u017csze koszty testowania dzi\u0119ki zmniejszeniu lub wyeliminowaniu potrzeby zewn\u0119trznego testowania elektrycznego przy u\u017cyciu ATE, lepsze pokrycie b\u0142\u0119d\u00f3w dzi\u0119ki w\u0142\u0105czeniu specjalnych struktur testowych do chip\u00f3w, kr\u00f3tsze czasy testowania, je\u015bli BIST mo\u017ce testowa\u0107 wi\u0119cej struktur r\u00f3wnolegle, \u0142atwiejsze wsparcie klienta oraz mo\u017cliwo\u015b\u0107 wykonywania test\u00f3w poza \u015brodowiskiem produkcyjnego testowania elektrycznego.<\/p>\n\n\n\n
Potencjalne wady obejmuj\u0105 dodatkow\u0105 powierzchni\u0119 krzemu i wymagania dotycz\u0105ce przetwarzania fabrycznego dla obwod\u00f3w BIST, potencjalny wp\u0142yw na czasy dost\u0119pu, dodatkowe wymagania dotycz\u0105ce rozmiaru pin\u00f3w i obudowy do interfejsu ze \u015bwiatem zewn\u0119trznym oraz mo\u017cliwo\u015b\u0107 nieprawid\u0142owych wynik\u00f3w BIST, je\u015bli sam sprz\u0119t testuj\u0105cy na chipie ulegnie awarii.<\/p>\n\n\n\n
Korzy\u015bci z wbudowania autotestu (BIST) w system s\u0105 liczne. Po pierwsze, znacznie obni\u017ca to koszty testowania, poniewa\u017c nie ma ju\u017c potrzeby przeprowadzania zewn\u0119trznych test\u00f3w elektrycznych za pomoc\u0105 ATE. Po drugie, BIST pozwala na lepsze pokrycie b\u0142\u0119d\u00f3w, poniewa\u017c specjalne struktury testowe mog\u0105 by\u0107 zintegrowane z chipami. Wreszcie, je\u015bli BIST jest zaprojektowany do bardziej efektywnego testowania, mo\u017ce to prowadzi\u0107 do kr\u00f3tszych czas\u00f3w testowania.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Wbudowane urz\u0105dzenia testuj\u0105ce, takie jak multimetry, oscyloskopy, sondy roz\u0142adowcze i generatory cz\u0119stotliwo\u015bci, s\u0105 wbudowane w system w celu u\u0142atwienia testowania i diagnostyki. Termin BIT jest powszechnie u\u017cywany w odniesieniu do tej funkcji lub do konkretnych przeprowadzanych test\u00f3w.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Wyja\u015bnienie: G\u0142\u00f3wnym celem wbudowanego autotestu jest zminimalizowanie koszt\u00f3w generowania wzorc\u00f3w testowych, zmniejszenie ilo\u015bci danych testowych i skr\u00f3cenie ca\u0142kowitego czasu testowania. Dodatkowo, w technice kompresji danych, por\u00f3wnanie jest wykonywane na skondensowanej odpowiedzi testowej, a nie na ca\u0142ych danych testowych.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Co to jest wbudowany autotest (BIST)?<\/p>\n
Wbudowany autotest (BIST) to mechanizm lub system, kt\u00f3ry umo\u017cliwia urz\u0105dzeniom i systemom elektronicznym przeprowadzanie autotest\u00f3w i weryfikacji ich wewn\u0119trznej funkcjonalno\u015bci.<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":4750,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"article_term":"","article_term_alternate":"","article_term_def":"","article_hook":"","auto_links":"","article_topic":"","article_fact_check":"","mt_social_share":"","mt_content_meta":"","mt_glossary_display":"","glossary_heading":"","glossary":"Built-In Self-Test (BIST)","glossary_alter":"","glossary_def":"","article_task":"","footnotes":""},"categories":[15],"tags":[13,14],"class_list":["post-7474","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-glossary","tag-glossary","tag-ng"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7474"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":8770,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions\/8770"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media\/4750"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7474"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=7474"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=7474"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}