O auto-teste incorporado (BIST) \u00e9 um mecanismo ou sistema que permite que os dispositivos e sistemas electr\u00f3nicos realizem auto-testes e verifica\u00e7\u00f5es da sua funcionalidade interna. Foi especificamente concebido para facilitar o ensaio eficiente e econ\u00f3mico de circuitos integrados durante o fabrico.<\/p>\n\n\n\n
O BIST reduz a depend\u00eancia de equipamento de ensaio automatizado (ATE) externo, incorporando carater\u00edsticas adicionais de hardware e software diretamente nos circuitos integrados. Isto permite que os CIs testem o seu pr\u00f3prio funcionamento, tanto funcional como param\u00e9trico, utilizando os seus circuitos internos. Ao realizar auto-testes, os CI podem verificar a sua funcionalidade, identificar eventuais falhas ou defeitos e garantir um desempenho fi\u00e1vel.<\/p>\n\n\n\n
A BIST \u00e9 considerada uma t\u00e9cnica de conce\u00e7\u00e3o para testabilidade (DFT), uma vez que melhora a facilidade, a velocidade, a efici\u00eancia e a rela\u00e7\u00e3o custo-efic\u00e1cia dos testes el\u00e9ctricos dos chips. Pode ser implementada de v\u00e1rias formas, consoante os requisitos espec\u00edficos do circuito e do produto. Por exemplo, no caso das DRAM, uma abordagem BIST comum envolve a incorpora\u00e7\u00e3o de circuitos adicionais no circuito integrado para gera\u00e7\u00e3o de padr\u00f5es, temporiza\u00e7\u00e3o, sele\u00e7\u00e3o de modos e testes de diagn\u00f3stico.<\/p>\n\n\n\n
O desenvolvimento de t\u00e9cnicas BIST tem sido impulsionado pelo aumento dos custos dos ensaios ATE e pela crescente complexidade dos circuitos integrados. \u00c0 medida que os dispositivos se tornam mais complexos, com diversos blocos funcionais constru\u00eddos em diferentes tecnologias, o BIST fornece uma solu\u00e7\u00e3o para testar circuitos cr\u00edticos que n\u00e3o t\u00eam liga\u00e7\u00f5es diretas a pinos externos, como as mem\u00f3rias incorporadas utilizadas internamente pelos dispositivos.<\/p>\n\n\n\n
A implementa\u00e7\u00e3o do BIST oferece v\u00e1rias vantagens, incluindo custos de teste mais baixos ao reduzir ou eliminar a necessidade de testes el\u00e9ctricos externos utilizando ATE, uma melhor cobertura de falhas ao incorporar estruturas de teste especiais nos chips, tempos de teste mais curtos se o BIST puder testar mais estruturas em paralelo, um apoio ao cliente mais f\u00e1cil e a capacidade de realizar testes fora do ambiente de testes el\u00e9ctricos de produ\u00e7\u00e3o.<\/p>\n\n\n\n
Entre os potenciais inconvenientes contam-se a \u00e1rea adicional de sil\u00edcio e os requisitos de processamento da f\u00e1brica para os circuitos BIST, o potencial impacto nos tempos de acesso, os requisitos adicionais em termos de tamanho dos pinos e dos pacotes para a interface com o mundo exterior e a possibilidade de resultados BIST incorrectos se o pr\u00f3prio hardware de teste no chip falhar.<\/p>\n\n\n\n
As vantagens de incorporar o auto-teste incorporado (BIST) num sistema s\u00e3o numerosas. Em primeiro lugar, reduz significativamente o custo dos ensaios, uma vez que deixa de ser necess\u00e1rio realizar ensaios el\u00e9ctricos externos utilizando um ATE. Em segundo lugar, o BIST permite uma melhor cobertura de falhas, uma vez que podem ser integradas estruturas de teste especiais nos chips. Por \u00faltimo, se o BIST for concebido para testar de forma mais eficiente, pode levar a tempos de teste mais curtos.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
O equipamento de teste incorporado, como mult\u00edmetros, oscilosc\u00f3pios, sondas de descarga e geradores de frequ\u00eancia, \u00e9 incorporado no sistema com o objetivo de facilitar os testes e o diagn\u00f3stico. O termo BIT \u00e9 normalmente utilizado para designar esta fun\u00e7\u00e3o ou os ensaios espec\u00edficos efectuados.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Explica\u00e7\u00e3o: O principal objetivo do auto-teste incorporado \u00e9 minimizar o custo da gera\u00e7\u00e3o de padr\u00f5es de ensaio, diminuir a quantidade de dados de ensaio e reduzir o tempo total de ensaio. Al\u00e9m disso, na t\u00e9cnica de compress\u00e3o de dados, a compara\u00e7\u00e3o \u00e9 efectuada na resposta de ensaio condensada em vez de nos dados de ensaio completos.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
O que \u00e9 o Auto-teste incorporado (BIST)<\/p>\n
O auto-teste incorporado (BIST) \u00e9 um mecanismo ou sistema que permite que os dispositivos e sistemas electr\u00f3nicos realizem auto-testes e verifica\u00e7\u00f5es da sua funcionalidade interna.<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":4750,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"article_term":"","article_term_alternate":"","article_term_def":"","article_hook":"","auto_links":"","article_topic":"","article_fact_check":"","mt_social_share":"","mt_content_meta":"","mt_glossary_display":"","glossary_heading":"","glossary":"Built-In Self-Test (BIST)","glossary_alter":"","glossary_def":"","article_task":"","footnotes":""},"categories":[15],"tags":[13,14],"class_list":["post-7474","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-glossary","tag-glossary","tag-ng"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7474"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":8770,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7474\/revisions\/8770"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/4750"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7474"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=7474"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.besterpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=7474"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}