Varredura de limite, tamb\u00e9m conhecida como JTAG (Joint Test Action Group), \u00e9 uma t\u00e9cnica de teste que envolve a integra\u00e7\u00e3o de c\u00e9lulas de latch de registrador de deslocamento, conhecidas como c\u00e9lulas de varredura de limite, em cada conex\u00e3o externa de dispositivos compat\u00edveis com varredura de limite. Essas c\u00e9lulas permitem o teste e a depura\u00e7\u00e3o de circuitos integrados (CIs) e interconex\u00f5es em uma PCB.<\/p>\n\n\n\n
As c\u00e9lulas de varredura de limite est\u00e3o estrategicamente posicionadas pr\u00f3ximas a cada pino de Entrada\/Sa\u00edda (I\/O) de um CI, formando uma cadeia de registradores de deslocamento que permite a transfer\u00eancia de dados entre dispositivos. Durante a opera\u00e7\u00e3o normal, as c\u00e9lulas de varredura de limite permanecem invis\u00edveis e n\u00e3o t\u00eam efeito no circuito. No entanto, quando o dispositivo \u00e9 configurado para modo de teste, um fluxo de dados serial, chamado vetor de teste, pode ser passado atrav\u00e9s da cadeia de registradores de deslocamento. Isso permite a captura de dados das linhas do circuito integrado ou a imposi\u00e7\u00e3o de dados nelas, facilitando testes e an\u00e1lises abrangentes.<\/p>\n\n\n\n
Para controlar o dispositivo de varredura de limite, \u00e9 utilizado um Port\u00e3o de Acesso de Teste (TAP) dedicado e um Controlador TAP. O Controlador TAP, uma m\u00e1quina de 16 estados, gerencia o Registro de Limite, que consiste nas c\u00e9lulas de varredura de limite. Os sinais TAP, incluindo Test Data In (TDI), Test Data Out (TDO), Test Clock (TCK), Test Mode Select (TMS) e o Reset de Teste opcional (TRST), s\u00e3o usados para controlar o dispositivo de varredura de limite e realizar v\u00e1rias fun\u00e7\u00f5es de teste.<\/p>\n\n\n\n
A norma IEEE 1149.1 define a arquitetura e os procedimentos para testes de varredura de limite. Ela especifica tr\u00eas fun\u00e7\u00f5es de teste obrigat\u00f3rias: EXTEST, SAMPLE\/PRELOAD e BYPASS. Al\u00e9m disso, a norma descreve fun\u00e7\u00f5es de teste opcionais, como INTEST, RUNBIST, IDCODE, CLAMP, HIGHZ e USERCODE. Os fabricantes tamb\u00e9m t\u00eam flexibilidade para adicionar suas pr\u00f3prias fun\u00e7\u00f5es de teste dentro das diretrizes da norma IEEE.<\/p>\n\n\n\n
A varredura de limite, com sua capacidade de testar e depurar circuitos integrados complexos e interconex\u00f5es sem a necessidade de sondas de teste f\u00edsicas, \u00e9 uma t\u00e9cnica valiosa na ind\u00fastria de PCBs. Ela oferece uma solu\u00e7\u00e3o de teste abrangente, especialmente em casos onde o acesso f\u00edsico aos pinos \u00e9 desafiador devido a fatores como altas densidades de componentes, pegadas menores e tecnologias avan\u00e7adas como BGA e SMT.<\/p>\n\n\n\n
A varredura de limite \u00e9 uma tecnologia de teste que envolve a adi\u00e7\u00e3o de c\u00e9lulas extras nas conex\u00f5es do sil\u00edcio at\u00e9 os pinos externos. Isso permite a verifica\u00e7\u00e3o tanto da funcionalidade do chip quanto da placa. Por outro lado, JTAG \u00e9 uma sigla para Joint Test Action Group, que se refere \u00e0 interface ou porta de acesso de teste usada para fins de comunica\u00e7\u00e3o.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
O registro de varredura de limite serve para capturar dados nas c\u00e9lulas de varredura de limite, o que envolve monitorar os pinos de entrada. Esses dados podem ser varridos para fora do dispositivo atrav\u00e9s do pino TDO para verifica\u00e7\u00e3o, e tamb\u00e9m podem ser varridos para dentro do dispositivo atrav\u00e9s do pino TDI. Assim, o testador consegue verificar os dados nos pinos de sa\u00edda do dispositivo.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
JTAG, que significa Joint Test Action Group, \u00e9 um padr\u00e3o da ind\u00fastria usado para verificar projetos e testar placas de circuito impresso ap\u00f3s sua fabrica\u00e7\u00e3o. \u00c9 uma ferramenta que complementa a simula\u00e7\u00e3o digital e implementa padr\u00f5es para instrumenta\u00e7\u00e3o on-chip na automa\u00e7\u00e3o de projeto eletr\u00f4nico (EDA).<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Dados de limite referem-se a um conjunto de valores de teste localizados nos extremos de um intervalo dado. Esses valores representam os limites superior e inferior do que \u00e9 esperado e devem ser aceitos. Por outro lado, quaisquer valores que estejam fora desses limites, seja antes ou al\u00e9m deles, devem ser rejeitados.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
A arquitetura de teste JTAG\/boundary-scan foi inicialmente projetada para testar as conex\u00f5es entre circuitos integrados (CIs) em uma placa de circuito impresso (PCB) sem a necessidade de sondas de teste f\u00edsicas. Isso \u00e9 alcan\u00e7ado anexando c\u00e9lulas boundary-scan, que s\u00e3o criadas usando circuitos multiplexadores e de latch, a cada pino do dispositivo.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Usar JTAG para extra\u00e7\u00e3o de firmware oferece in\u00fameros benef\u00edcios. Primeiramente, o JTAG \u00e9 um protocolo reconhecido universalmente e amplamente utilizado, o que significa que h\u00e1 uma vasta gama de ferramentas e recursos acess\u00edveis para sua utiliza\u00e7\u00e3o. Em segundo lugar, o JTAG permite acesso direto \u00e0 mem\u00f3ria do dispositivo, bypassando a necessidade de qualquer funcionalidade de software ou firmware.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
As vers\u00f5es ISO s\u00e3o essencialmente as mesmas que as vers\u00f5es RGH\/JTAG, mas est\u00e3o em um formato diferente. Os arquivos ISO cont\u00eam os arquivos do jogo, enquanto as vers\u00f5es RGH\/JTAG est\u00e3o em um formato diferente. Ontem, Noobert estava experimentando comprimir os arquivos em um formato menor.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Uma arquitetura de varredura de limites \u00e9 um m\u00e9todo de teste padronizado que define as t\u00e9cnicas e a estrutura para resolver problemas de hardware em componentes como placas de circuito impresso (PCBs) e circuitos integrados. Essa abordagem \u00e9 particularmente \u00fatil para testar PCBs intrincados e densamente compactados, pois testadores tradicionais em circuito podem n\u00e3o ser t\u00e3o eficazes nesses casos.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
O Controlador TAP JTAG, de acordo com o padr\u00e3o IEEE-1149.1, \u00e9 uma m\u00e1quina de estados finitos de 16 estados que \u00e9 controlada pelos sinais de rel\u00f3gio de teste (TCK) e sele\u00e7\u00e3o de modo de teste (TMS). As transi\u00e7\u00f5es do controlador TAP s\u00e3o determinadas pelo estado de TMS na borda de subida do TCK.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
O protocolo JTAG, tamb\u00e9m conhecido como IEEE 1149.1, foi inicialmente desenvolvido para agilizar os testes de interconectividade de PCB durante o processo de fabrica\u00e7\u00e3o.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
JTAG \u00e9 uma interface de hardware criada pelo Joint Test Access Group na d\u00e9cada de 1980 para superar as dificuldades t\u00e9cnicas e restri\u00e7\u00f5es de testar interconex\u00f5es em placas de circuito impresso (PCBs) mais intrincadas e compactas.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
O que \u00e9 Boundary Scan<\/p>\n
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