O Auto-teste Embutido (BIST) \u00e9 um mecanismo ou sistema que permite que dispositivos e sistemas eletr\u00f4nicos realizem auto-testes e verifica\u00e7\u00e3o de sua funcionalidade interna. Ele foi projetado especificamente para facilitar testes eficientes e econ\u00f4micos de ICs durante a fabrica\u00e7\u00e3o.<\/p>\n\n\n\n
BIST reduz a depend\u00eancia de equipamentos de teste automatizado externo (ATE) ao incorporar recursos adicionais de hardware e software diretamente nos ICs. Isso permite que os ICs testem sua pr\u00f3pria opera\u00e7\u00e3o, tanto funcional quanto parametrizadamente, usando seus circuitos internos. Ao realizar autotestes, os ICs podem verificar sua funcionalidade, identificar quaisquer falhas ou defeitos potenciais e garantir um desempenho confi\u00e1vel.<\/p>\n\n\n\n
O BIST \u00e9 considerado uma t\u00e9cnica de Design-for-Testability (DFT), pois melhora a facilidade, velocidade, efici\u00eancia e custo-efetividade dos testes el\u00e9tricos para chips. Pode ser implementado de v\u00e1rias maneiras, dependendo dos requisitos espec\u00edficos do circuito e do produto. Por exemplo, no caso de DRAMs, uma abordagem comum de BIST envolve incorporar circuitos adicionais no chip para gera\u00e7\u00e3o de padr\u00f5es, temporiza\u00e7\u00e3o, sele\u00e7\u00e3o de modo e testes de diagn\u00f3stico.<\/p>\n\n\n\n
O desenvolvimento de t\u00e9cnicas de BIST tem sido impulsionado pelos custos crescentes dos testes ATE e pela complexidade crescente dos circuitos integrados. \u00c0 medida que os dispositivos se tornam mais complexos, com blocos funcionais diversos constru\u00eddos em diferentes tecnologias, o BIST oferece uma solu\u00e7\u00e3o para testar circuitos cr\u00edticos que n\u00e3o possuem conex\u00f5es diretas aos pinos externos, como mem\u00f3rias embutidas usadas internamente pelos dispositivos.<\/p>\n\n\n\n
Implementar o BIST oferece v\u00e1rias vantagens, incluindo custos de teste mais baixos ao reduzir ou eliminar a necessidade de testes el\u00e9tricos externos usando ATE, maior cobertura de falhas ao incorporar estruturas de teste especiais nos chips, tempos de teste mais curtos se o BIST puder testar mais estruturas em paralelo, suporte ao cliente mais f\u00e1cil e a capacidade de realizar testes fora do ambiente de teste el\u00e9trico de produ\u00e7\u00e3o.<\/p>\n\n\n\n
As poss\u00edveis desvantagens incluem \u00e1rea adicional de sil\u00edcio e requisitos de processamento de fabrica\u00e7\u00e3o para os circuitos BIST, impacto potencial nos tempos de acesso, requisitos adicionais de pinos e tamanho do pacote para interfacear com o mundo externo, e a possibilidade de resultados incorretos do BIST se o hardware de teste no chip falhar.<\/p>\n\n\n\n
As vantagens de incorporar o teste embutido (BIST) em um sistema s\u00e3o numerosas. Primeiramente, ele reduz significativamente o custo de testes, pois n\u00e3o h\u00e1 mais necessidade de testes el\u00e9tricos externos usando um ATE. Em segundo lugar, o BIST permite uma melhor cobertura de falhas, pois estruturas de teste especiais podem ser integradas aos chips. Por fim, se o BIST for projetado para testar de forma mais eficiente, pode levar a tempos de teste mais curtos.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Equipamento de teste embutido, como mult\u00edmetros, oscilosc\u00f3pios, sondas de descarga e geradores de frequ\u00eancia, \u00e9 incorporado ao sistema com o objetivo de facilitar testes e diagn\u00f3sticos. O termo BIT \u00e9 comumente usado para se referir a essa fun\u00e7\u00e3o ou aos testes espec\u00edficos realizados.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n
Explica\u00e7\u00e3o: O objetivo principal do teste embutido \u00e9 minimizar o custo de gera\u00e7\u00e3o de padr\u00f5es de teste, diminuir a quantidade de dados de teste e reduzir o tempo total de teste. Al\u00e9m disso, na t\u00e9cnica de compress\u00e3o de dados, a compara\u00e7\u00e3o \u00e9 realizada na resposta de teste condensada, e n\u00e3o em todos os dados de teste.<\/p>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
O que \u00e9 o Built-In Self-Test (BIST)<\/p>\n
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