BGA失效的解剖

Bester PCBA

最後更新:2025-10-15

一塊原型板到達,無動於衷且毫無用處。對於產品開發團隊來說,這不僅僅是延遲;而是一個令人沮喪的除錯循環、資料受損和成本增加的過程。在現代電子產品的表面之下,球柵陣列(BGA)封裝代表著一種持續的緊張關係。它是高密度連接的奇蹟,緊湊的佈局中卻能實現,但它也是這些無聲故障的主要嫌疑人。在BGA下方隱藏的微小瑕疵可能使整個組件變得一文不值,理解這些故障的微妙物理學是預防的唯一可靠途徑。

挑戰在於BGA的不透明性。其最關鍵的焊點形成於一個隱藏的世界,一個可能形成災難性缺陷卻沒有任何可見證據的空間。雖然許多事情可能出錯,但導致原型失敗的故障往往範圍廣泛,從立即明顯到危險潛伏。

一端是硬而明確的短路。焊橋,即相鄰焊球之間的非預期電連接,是一種由過多焊膏或微小偏差引起的直接災難。同樣,真正的開路,即焊球完全未與焊盤連接,是一個簡單的、完全的斷開。這些是令人沮喪但誠實的故障。在初步測試中,它們會明確地表現出來。

更難的問題是那些削弱焊點而非切斷它的問題。過度空洞化,即焊料中氣泡的困住,不會立即造成開路。相反,它會形成一個隱藏的弱點。這些空洞削弱了焊點散熱的能力,這對許多BGA來說是關鍵功能,也降低了其機械強度。電路板可能暫時正常,但它帶有一個結構缺陷,容易受到震動、衝擊或熱循環的壓力而失效。這是一個倒數計時的時鐘。

頭枕的陰險本質

然後是最臭名昭著的缺陷,一個微妙到獲得獨特描述名稱的故障:頭枕(HiP)。這發生在回流過程中,當焊膏和BGA上的焊球都融化,但關鍵是未能融合成一個統一的焊點。BGA焊球就像枕頭上的頭部,停留在焊膏的凹陷中。產生的開路通常是間歇性的,肉眼難以察覺,甚至在初步電氣測試中也能通過,但在現場卻不可預測地失效。

這種故障不是由單一錯誤產生,而是在板子在回流爐中短短幾分鐘內的動態衝突中形成。隨著溫度升高,BGA封裝和PCB本身可能以不同速度變形。這種差異性變形可能導致元件暫時從板子上抬起。在分離的瞬間,熔融焊球和下面焊膏的暴露表面可能氧化。當組件在回流循環中冷卻並變平時,元件重新安置,但新形成的氧化層形成屏障,阻止兩個焊料體融合。它們接觸,但不結合。

因此,預防措施在板子進入回流爐之前就已開始。它始於控制濕度,因為吸收的濕氣會大大加劇變形。根據其濕度敏感等級(MSL)正確存放和處理元件不是一個微不足道的步驟;它是對抗HiP的根本防禦。另一個主要的防禦措施是精心優化的回流曲線。逐步預熱階段對於最小化引起變形的熱衝擊至關重要,並給焊膏中的助焊劑時間激活,清潔金屬表面並防止氧化。具有堅固助焊劑包的焊膏,設計在整個熱旅程中保持活性,提供更寬的工藝窗口和對這些微妙物理的關鍵緩衝。

頭枕的陰險本質在於它除了最嚴格的檢查外,幾乎無法被發現。從外觀來看,焊點似乎完美無瑕。它甚至可能與足夠的電容形成“親吻”連接,通過邊界掃描。唯一可靠的檢測方法是通過自動X光檢查(AXI)。雖然2D X光可以揭示橋接等大缺陷,但真正揭露HiP需要3D AXI。3D系統會產生焊點的截面切片,清楚顯示焊球與焊膏之間未融合的界面。這是唯一能真正驗證焊點物理完整性的方法。

預防藍圖:設計與流程的交匯點

開發團隊對BGA品質的最大控制權在於在放置任何元件之前就已行使。忽視製造現實的設計是失敗的藍圖。

基礎是PCB上的銅焊盤。行業最佳實踐普遍偏好非焊膏定義(NSMD)焊盤,即焊盤的開口大於銅焊盤。這種設計允許熔融的焊料包裹焊盤側面,形成機械上堅固的球形和插座形焊點。依賴過時的元件資料表範例而非現代標準如IPC-7351,是一個常見且可避免的錯誤。在這些焊盤之間,必須有一個薄的焊膏隔離帶。通常需要至少4密耳(0.1mm)的隔離帶,以有效防止焊料在相鄰焊盤間流動並形成橋接。

也許最關鍵的設計規則是佈線。在BGA焊盤上直接放置通孔是一種常見的密集設計技術,但它有一個絕對的規定:通孔必須填充並鍍層。未封閉的通孔在回流時就像一根細小的吸管,將焊料吸入孔中。這種焊料竊取會使焊點失去必要的體積,直接導致過多的空洞或完全開路。這是設計選擇對工廠產生直接且可預測影響的經典例子。

即使是完美的設計,也可能被不精確的組裝流程所破壞。組裝者的角色是嚴格執行,而這始於表面貼裝技術中被廣泛認為最關鍵的步驟:焊膏印刷。高品質的激光切割模板必須在每個焊盤上沉積一致且精確的焊膏體積。接著,貼片機必須利用其視覺引導系統,以接近完美的精度放置BGA。

這些步驟最終會進入回流焊爐,在那裡熱剖面——該組裝的特定溫度配方——決定了最終結果。該剖面必須根據電路板的熱質量和所選焊料進行調整。例如,標準的無鉛SAC305合金需要高峰溫度約為245°C,這會增加熱應力,可能導致翹曲和HiP。使用低溫焊料可以大幅降低這一風險,因為它的回流溫度接近180°C,但也帶來折衷。這些低溫焊點通常更脆,對於會經歷震動或溫度大幅變化的產品來說,可能是一個潛在的缺陷。這不僅僅是技術選擇,更是關於可靠性和成本的商業決策。

在理想情況下,每個BGA原型都應該用3D X光進行驗證。然而,對於預算有限的團隊來說,這並不總是可行的。放棄AXI意味著你本質上接受了更高的風險。這種風險可以通過更依賴電氣測試如JTAG/邊界掃描,以及設計可訪問的測試點來關鍵信號進行緩解。在整個設備的工作溫度範圍內進行嚴格的功能測試,有時可以迫使潛在缺陷顯現。但重要的是要理解,這些方法只是代理,它們確認連通性,而非品質,也無法看到潛藏的結構缺陷,這些缺陷可能對長期可靠性構成威脅。

當BGA失效時會發生什麼?返工是可能的,但它是一個專業、昂貴且風險較高的最後手段。這個過程需要一個專用的站點來局部加熱並移除故障元件,仔細清潔現場,塗抹新焊料,並在不損壞電路板其他部分的情況下進行回流焊接。局部的熱應力很容易導致焊盤脫落或損壞PCB的內層。工廠經驗教訓明確:通過周到的設計和流程控制來預防,永遠比修復來得便宜且可靠得多。

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