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Il Fermacarte $40.000: Perché la Copertura di Test “Perfetta” Uccide l'Hardware a Basso Volume
La produzione di hardware a basso volume richiede strategie di test flessibili ed economiche piuttosto che una copertura “perfetta”. Invece di costosi dispositivi fissi, l'uso di test funzionali basati su firmware e configurazioni semplici e incentrate sull'uomo garantisce una produzione affidabile senza mandare in rovina il tuo lotto.
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La Realtà Termica dei Vuoti: Perché il Pass/Fail IPC Non Basta per la Potenza
Il pass/fail IPC maschera il rischio reale quando i vuoti si trovano sotto il die. Bester sostiene che l'integrità del percorso termico e l'ispezione 3D superano le percentuali totali di vuoti, guidando una classificazione più intelligente per prevenire guasti e richiami nell'elettronica ad alta potenza.
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Il Controllo di Realtà del Box Build: Quando il CAD Mente e i Cavi Si Rompono
In fabbrica, i cavi progettati in CAD possono rompersi sotto stress reali. Questo controllo di realtà spiega perché il routing deterministico, le curve di servizio e un solido sollievo dalla tensione prevengono guasti sul campo nei box build.
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Il Film Invisibile: Perché “Elettricamente Pulito” è Otticamente Fatale
I moduli ottici sigillati possono superare i test elettrici ma appannare la lente con residui volatili che si liberano all'interno dell'involucro. La vera qualità dell'immagine richiede una vera pulizia ottica: test localizzati nell'area del sensore e controlli a livello di IC piuttosto che lavaggi o ROSE generali.
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Il Mito dei “260°C”: Perché i Connettori ad Alta Temperatura Falliscono nel Reflow
260°C per 10 secondi è una pericolosa semplificazione. Lo stress del reflow, la differenza di CTE e l'umidità possono deformare i connettori e sollevare i pin anche quando la saldatura sembra a posto; scegli materiali stabili come LCP e aggiungi soluzioni meccaniche per sopravvivere alla produzione reale.
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La Corrente Invisibile: Perché il Flux “No-Clean” Sta Uccidendo la Durata della Tua Batteria
I dispositivi a bassissimo consumo raramente guastano per colpa della batteria; guastano per colpa della scheda, dove residui nascosti di flux diventano conduttivi in presenza di umidità e creano un drenaggio parassita. Un corretto lavaggio in linea e la prova con cromatografia ionica possono recuperare anni di durata della batteria.
